多局所網膜電図

網膜電図検査は網膜機能障害を客観的に診断します。多焦点網膜電図検査では、多数の網膜領域から焦点反応を取得し、機能障害領域のトポグラフィックマップを作成します。

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多焦点網膜電気記録法はいつ使用されますか?

網膜電図における反応のほとんどは網膜外層（光受容体、双極細胞）に由来しますが、多焦点網膜電図は神経節細胞の機能を客観的に評価するためにも用いられます。反応信号の一部は、視神経乳頭付近に位置する神経節細胞線維に由来します。この成分は緑内障患者において過小評価されています。この検査法では散瞳を必要としません。この反応成分の増幅、分離、マッピングを研究するための特別なシステムが開発されています。

多焦点網膜電気記録法はどのように機能しますか?

角膜から電極のコンタクトレンズを通して網膜電気信号を受信すると、すべての焦点領域が独立して同時に刺激されます。多焦点刺激の特殊な数学的スキームにより、単一の網膜電気信号から焦点反応を正確に抽出できます。患者は質問に答える必要はありません。視覚誘発反応画像システム（VERIS; Electro-Diagnostic Imaging、カリフォルニア州サンマテオ）を使用すると、刺激は数百の焦点刺激で構成できます。通常、ビデオモニターに映し出される103個の六角形領域が、患者の視野の中央50°を刺激します。ほとんどの場合、焦点刺激はフラッシュの擬似ランダムな提示で構成されます。局所的な電気生理学的反応はトポグラフィー的に収集・記録され、視野マップに類似した機能的網膜マップが形成されます。

制限

現在、多焦点網膜電図検査は実験的に使用されており、日常的な臨床検査には組み込まれていません。

視覚誘発皮質電位

視覚誘発皮質電位（VECP）は、閃光刺激またはパターン刺激による網膜刺激に反応して脳の後頭葉視覚皮質から生成される電気信号です。視覚伝導路の状態を評価するには、閃光刺激よりもパターンVECPの方が軸索伝導の障害の検出感度が高いため、好まれます。

視覚誘発皮質電位の仕組み

VEP法は、パターン刺激または閃光刺激に対する視覚野の電気的反応を測定する。視覚誘発反応電位は、頭皮上の電極間で測定される。反応自体を測定する電極の1つは、一次視覚野に近い外側後頭結節（または後頭葉結節）の上または外側に配置する。もう1つの電極は制御点に配置する。最後の電極は接地用として用いる。

視覚誘発皮質電位が使用される場合

当初、VVS は視神経の疾患および前部視覚路の損傷による二次的な視力喪失を判定するために使用されていました。

前のセクションで説明した多焦点法は、皮質反応（多焦点VSEP）の記録にも用いられます。この場合、刺激順序は通常「ダーツ」パターンとして形成され、各セクターにはチェッカーボードパターンのコントラスト反転刺激が含まれます。この方法の難点は、大脳皮質の解剖学的屈曲性などにより、局所反応が減少または消失することです。この方法は必ずしも機能障害を反映するわけではありません。片眼の局所機能障害は、両眼の反応マップを比較することで検出されます。最近の研究では、VSEPと視野欠損との相関関係が見出されています。

制限

多焦点網膜電気記録法の限界と同様に、この方法が一般的に臨床的に適応できるようになるまでには、多焦点網膜電気記録法に関して多くの研究を行う必要があります。